1. Analytical electron microscopy for materials science
پدیدآورنده: Shindo D. )Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S5513
2002
2. Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
پدیدآورنده: #edited by Nigel D. Browning, Stephen J. Pennycook
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: High temperature superconductors ،Electron microscopy- Technique
رده :
#
QC
،#.
H54
,
C43
3. Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy /
پدیدآورنده: edited by Nigel D. Browning, Stephen J. Pennycook.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy-- Technique.,High temperature superconductors.,Electron microscopy-- Technique.,High temperature superconductors.
رده :
QC611
.
98
.
H54
C43
2006
4. ELECTRON MICROSCOPY IN THE STUDY OF MATERIALS
پدیدآورنده: G.A. JONES
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشكده نفت اهواز (خوزستان)
موضوع:
رده :
530
,.
41
,
GRE
5. Materials Conference: The impact of transmission electron microscopy on theories of the stength ...
پدیدآورنده :
موضوع : ، Electron microscopy-- Congresses,، Crystallography-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
6. Materials Conference: The impact of transmission electron microscopy on theories of the stength ...
پدیدآورنده: / Edited by Gareth Thomas, Jack Washburn
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)
موضوع: Electron microscope - Congresses,Crystallography - Congresses
رده :
548
.
8
Be-E
7. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده: Grundy, Philip James.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: ، Materials,، Electron microscopy
رده :
TA
407
.
G76
8. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده : Grundy, P.J.
موضوع : ، Electron microscope,، Scanning electron microscope
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
9. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده: Grundy,Philip james.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: ، Materials,Electron microscopy
رده :
TA
407
.
G76
10. Electron microscopy of materials : an introduction
پدیدآورنده: Heimendahl, Manfred von.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Electron microscopy
رده :
QH
212
.
E4
H4513
1980
11. High-resolution electron microscopy for materials science, Zairyo Hyoka no tameno Kobunkaino Denshi Kenbikyou Ho. English
پدیدآورنده: Shindo, D.)Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S53
1998
12. IITRI fracture handbook. failure analysis of metallic materials by scanning electron microscopy
پدیدآورنده: IIT Research Institute.Metals Research Division.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع: ، Fractography, Handbooks, manuals, etc
رده :
TN
690
.
I18
1979
13. MICROSCOPY OF MATERIALS MODERN IMAGING METHODS USING ELECTRON, X-RAY AND ION BEAMS
پدیدآورنده: C. R. HALL
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشكده نفت اهواز (خوزستان)
موضوع:
رده :
620
,.
112
,
BOM
14. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, X-ray, and ion beams
پدیدآورنده : Bowen , David Keith, 0491-
موضوع : ، Materials - Microscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
15. Microscopy of materials; modern imaging methods using electron, Xray and ion beams
پدیدآورنده: Bowen,David Keith,
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Microscopy ، Materials,Data processing ، Finite element method,Data processing ، Continuum mechanics,، TEPSAC )Computer program(,Data processing ، Thermoelesticity
رده :
TA
418
.
7
.
B6
16. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
پدیدآورنده: Bowen, D. Keith)David Keith(
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
17. Microscopy of materials: modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
پدیدآورنده: Bowen, David Keith
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Materials- Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
18. Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Scince
پدیدآورنده: / David B. Williams
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع:
رده :
TA
417
.
23
.
W55
1984
19. Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Scince
پدیدآورنده: / David B. Williams
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع:
رده :
TA
417
.
23
.
W55
1984
20. Practical electron microscopy in materials science
پدیدآورنده: / J. W. Edington
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Crystallography,Electron microscopy
رده :
QD
906
.
7
.
E37E34
1976
